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Nexsa 能譜儀具有靈活性，可最大限度地發(fā)揮材料潛能。在使結果保持研究級質量水平的同時，以多重整合技術選項的形式提供靈活性，從而實現真正意義上的相關性數據分析和高通量。

• 標準化功能催生強大性能：
• 絕緣體分析
• 高性能光譜
• 深度剖析
• 多技術整合
• 雙模式離子源，使深度剖析功能得到擴展
• 用于 ARXPS 測量的傾斜模塊
• 用于儀器控制、數據處理和報告的 Avantage 軟件
• 小光斑分析

可選的升級：可將任何全自動化集成技術添加到您的分析中。觸動按鈕即可運行。

• ISS：在離子散射光譜技術中，一束離子可被某物體表面散射
• UPS：紫外光電子能譜是指對吸收了紫外光子的分子所發(fā)射的光電子動能譜進行測量，以確定化合價區(qū)域中的分子軌道能量
• 拉曼：能譜技術在化學領域被用于提供結構指紋
• REELS：反射電子能量損失譜

借助 SnapMap 的光學視圖，聚焦于樣品特征。光學視圖可以幫助您快速定位感興趣區(qū)域，同時生成完全聚焦的 XPS 圖像，以進一步定義您的實驗。

• X 射線照射樣品上的一個小區(qū)域。
• 收集來自這一小區(qū)域的光電子并將其聚焦于分析儀
• 隨著鏡臺的移動，不斷采集能譜
• 在整個數據采集過程中監(jiān)測鏡臺位置，這些位置用來生成 SnapMap

• 電池
• 生物表面
• 催化劑
• 陶瓷
• 玻璃涂層
• 石墨烯
• 金屬和氧化物
• 納米材料
• OLED
• 聚合物
• 半導體
• 太陽能電池
• 薄膜

儀器性能和維護對于實驗室的運行來說至關重要，禹重和賽默飛為您提供培訓、儀器服務計劃或按需維修服務，幫助您獲得準確可靠的結果以及最長的儀器正常運行時間。我們很清楚保持儀器的最優(yōu)性能對提高您的生產力極為重要，因此，我們定能在您需要時為您排憂解難。

通過與禹重的合作，您不僅可以獲得最好的分析儀器，而且還將擁有未來最佳的合作伙伴

• 賽默飛Nexsa? X 射線光電子能譜儀 (XPS) 系統中文樣本