科學儀器???實驗方案???計量檢測?? 設備運維
科學儀器???實驗方案???計量檢測?? 設備運維
為滿足AFM使用者對提高AFM使用效率的需求,Bruker開發(fā)了這套快速掃描系統(tǒng),不降低分辨力,不增加設備復雜性,不影響儀器操作成本的前提下,幫助用戶實現(xiàn)了利Dimension快速掃描系統(tǒng),即時快速得到高分辨高質量AFM圖像的愿望。當您對樣品進行掃描時,無論設置實驗參數為掃描速度> 125Hz,還是在大氣下或者溶液中1秒獲得1張AFM圖像,都能得到優(yōu)異的高分辨圖像??焖賿呙柽@一變革性的技術創(chuàng)新重新定義了AFM儀器的操作和功能。
高效率
- 在空氣或液體中成像速度是原來速度的100倍,自動激光調節(jié) 和檢測器調節(jié),智能進針,大大縮短了實驗時間。
- 自動測量軟件和高速掃描系統(tǒng)完美結合,大幅提高了實驗數據 的可信度和可重復性。
高分辨率
- Fastscan精確的力控制模式提高圖像分辨率的同時,延長了探針的使用壽命。
- 掃描速度20Hz時仍能獲得高質量的TappingModeTM圖像,掃描速度6Hz仍能獲得高質量的ScanAsyst圖像。
- 低噪音,溫度補償傳感器展現(xiàn)出亞埃級的噪音水平。
在任何樣品上均有卓越表現(xiàn)
- 閉環(huán)控制的Icon和FastScan的掃描管極大地降低了Z方向噪音,使它們Z方向的噪音水平分別低于30pm和40 pm,具有超低的熱漂移率,可得到超高分辨的真實圖像。
- Fast Scan可以對不同樣品進行測量,保證高度從埃級到100多納米的樣品高精度無失真掃描。
AFM終極性能
杰出的生產力
世界上zui靈活的平臺
出眾的性能滿足各種應用需求
材料成像
管的情況下可進行納米力學成像。使用FastScan技術,大大減少了研究者獲得高分辨率形貌和納米力學圖譜的時間。
納米操縱
加熱和冷卻
電學表征
利用短時間獲得高質量可發(fā)表數據結果
樣品篩選
動態(tài)應用范例
儀器性能和維護對于實驗室的運行來說至關重要,禹重為您提供培訓、儀器服務計劃或按需維修服務,幫助您獲得準確可靠的結果以及zui長的儀器正常運行時間。我們很清楚保持儀器的zui優(yōu)性能對提高您的生產力極為重要,因此,我們定能在您需要時為您排憂解難。
通過與禹重的合作,您不僅可以獲得最好的分析儀器,而且還將擁有未來最佳的合作伙伴