科學(xué)儀器???實(shí)驗(yàn)方案???計量檢測?? 設(shè)備運(yùn)維
SXES 軟X射線分析譜儀
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http://www.hzyfmy.cn/instruments/surface/epma/1462-sxes.html#sigProIdb84b391129
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軟X射線分析譜儀(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通過組合新開發(fā)的衍射光柵和高靈敏度Ｘ射線CCD相機(jī)，實(shí)現(xiàn)了極高的能量分辨率。 和EDS一樣可以并行檢測，并且能以0.3eV(費(fèi)米邊處Al-L基準(zhǔn))的極高能量分辨率進(jìn)行分析，超過了WDS的能量分辨率。
產(chǎn)品規(guī)格
- 能量分辨率0.3eV（Al-L 光譜圖73eV處測試）
- 獲取能量范圍：衍射光柵JS50XL的能區(qū)50-170eV
- 獲取能量范圍：衍射光柵JS50XL的能區(qū)70-210eV
- 分光譜儀艙安裝位置：
- EPMA的WDS接口：NO.2接口（正面右側(cè)）
- FE-SEM的WDS接口（正面左后側(cè)）
- 分光譜儀尺寸 W 168mm×D 348mm ×H 683mm
- * 從接口包括CCD的距離
- 分光譜儀重量 25kg
適用機(jī)型
- EPMA ： JXA-8530F, JXA-8230, JXA-8500F, JXA-8200
- SEM ： JSM-7800F, JSM-7800 Prime, JSM-7100F
電子探針可以對試樣中微小區(qū)域（微米級）的化學(xué)組成進(jìn)行定性或定量分析，可以進(jìn)行點(diǎn)、線掃描（得到層成分分布信息）、面掃描分析（得到成分面分布圖像）。還能全自動進(jìn)行批量定量分析。由于電子探針技術(shù)具有操作迅速簡便、實(shí)驗(yàn)結(jié)果的解釋直截了當(dāng)、分析過程不損壞樣品、測量準(zhǔn)確度較高等優(yōu)點(diǎn)，在冶金、地質(zhì)、電子材料、生物、醫(yī)學(xué)、考古以及其它領(lǐng)域中得到日益廣泛地應(yīng)用，是礦物測試分析和樣品成分分析的重要工具。
儀器性能和維護(hù)對于實(shí)驗(yàn)室的運(yùn)行來說至關(guān)重要，禹重為您提供培訓(xùn)、儀器服務(wù)計劃或按需維修服務(wù)，幫助您獲得準(zhǔn)確可靠的結(jié)果以及最長的儀器正常運(yùn)行時間。我們很清楚保持儀器的最優(yōu)性能對提高您的生產(chǎn)力極為重要，因此，我們定能在您需要時為您排憂解難。
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