科學儀器???實驗方案???計量檢測?? 設備運維
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Rigaku X 射線衍射儀用于獲取高質(zhì)量的衍射數(shù)據(jù)，被應用于大學、研究機構和工業(yè)流程控制實驗室
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http://www.hzyfmy.cn/instruments/chemistry/xrf-xrd/2864-xrd.html#sigProId1e69fe3595
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XRD（X 射線衍射）是目前研究晶體結構（如原子或離子及其基團的種類和位置分布，晶胞形狀和大小等）最有力的方法之一。通過樣品的 X 射線衍射圖與已知的晶態(tài)物質(zhì)的 X 射線衍射譜圖的對比分析便可以完成樣品物相組成和結構的定性鑒定；通過對樣品衍射強度數(shù)據(jù)的分析計算，可以完成樣品物相組成的定性和定量分析。
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MiniFlex600 臺式X射線衍射儀
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SmartLab系列 智能X射線衍射儀
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Ultima IV 組合型多功能水平X射線衍射儀（已停產(chǎn)）
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理學MiniFlex X射線衍射儀（XRD）具有歷史意義，因為它是第一臺商用臺式（臺式或臺式）X射線衍射儀。1973 年推出時，最初的 Miniflex? 臺式 XRD 的尺寸約為當時傳統(tǒng) X 射線衍射 （XRD） 設備的十分之一，而且成本要低得多。最初的儀器（第 1 代）及其于 1976 年推出的繼任者（第 2 代）采用了水平測角儀，數(shù)據(jù)輸出由內(nèi)部帶狀圖記錄儀提供。第三代（第 3 代）臺式衍射儀于 1995 年推出，稱為 Miniflex+。它使 X 射線功率大幅提高到 450 瓦（通過在 30kV 和 15mA 下運行）和 Windows PC 計算機控制。Miniflex+ 和后續(xù)幾代臺式衍射儀均采用垂直測角儀，并允許使用自動進樣器。第四代（第 4 代）Miniflex II 臺式 XRD 于 2006 年推出，它改進了單色 X 射線源和 D/teX Ultra 1D 硅條探測器。第五代（第 5 代）臺式 XRD 于 2012 年推出，在此基礎上構建了 600W 的可用功率和新的粉末衍射軟件。
主要特點：
臺式X射線衍射儀MiniFlex600，外型小巧方便，具有近于高端分析儀器的測試性能，可以廣泛應用于各種材料結構分析的各個領域，是一種適用于大專院校學生實驗及研究的X射線衍射儀,特別適合于野外作業(yè)進行材料結構解析；Miniflex600系列也是一種適用于工廠生產(chǎn)現(xiàn)場質(zhì)量管理檢查，勞動保護、環(huán)境污染測量的X射線衍射儀。
- 打破以往X射線分析儀器常規(guī)，以小型化和高效能的完美組合刷新了X射線行業(yè)的基準；
- 外箱采用具有高度安全性的完全密封設計，使儀器移動、安裝均能簡單自如完成，可充分調(diào)整光學系統(tǒng)；
- 安裝后接入電源即可開始使用，操作簡單，初學者也能輕松自如；
- 具有超高性價比的MiniFlex 600，為您開創(chuàng)輕松自由的X射線新時代。
技術參數(shù)
- 最小最輕的X射線衍射儀。主機寬約560mm，高700mm，深395mm；重量約80kg。
- 功率600W，強度大大提高（上一代產(chǎn)品MiniFlexII最大功率450W）。
- 測角儀精度高、放置樣品方便。
- 測角儀配程序式可變狹縫，改善低角度P/B，提高高角度強度。
- 安全設計，放置樣品時自動關閉X射線。
- 軟件豐富
- 附件可配：
- 計數(shù)端單色器，扣除Kβ、熒光X射線，提高P/B比
- 旋轉樣品臺
- 隔絕空氣。水蒸氣樣品臺
- 六樣品自動交換器
- 高速一維陣列探測器D/teX Ultra2
主要的應用軟件有：
- 多重記錄
- 定性分析
- 定量分析
- ICDD數(shù)據(jù)庫管理
- 環(huán)境粉塵專用定量軟件
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智能X射線衍射儀SmartLab系列，是當今世界高性能的多功能的X射線衍射儀，它采用了理學獨創(chuàng)的CBO交叉光學系統(tǒng)、自動識別所有光學組件、樣品臺、智能的測量分析軟件SmartLab Guidance，一臺儀器可以智能進行普通粉末樣品、液體樣品、納米材料、藥品、半導體、薄膜樣品測試。
技術參數(shù)
- X射線發(fā)生器功率為3KW、新型9KW轉靶
- 測角儀為水平測角儀
- 測角儀最小步進為1/10000度，最高精度測角儀（雙光學編碼、直接軸上定位）（理學專利）
- 測角儀配程序式可變狹縫
- 自動識別所有光學組件、樣品臺（理學專利）
- CBO交叉光路，提供聚焦光路及高強度高分辨平行光路（帶Mirror）（理學專利）
- 小角散射測試組件(SAXS / Ultra SAXS)
- 多用途薄膜測試組件
- 微區(qū)測試組件、CBO-F微區(qū)光學組件
- In-Plane測試組件（理學獨有）
- 入射端Ka1光學組件
- 高速探測器D/teX-Ultra（能量分辨率20%以下）
- 二維面探PILATUS 100K/R(用于同步輻射環(huán)的探測器，可以接收直射X射線)
- 智能的測量分析軟件SmartLab Guidance（專利）
主要的應用有：
- 粉末樣品的物相定性與定量分析
- 計算結晶化度、晶粒大小
- 確定晶系、晶粒大小與畸變
- Rietveld定量分析
- 薄膜樣品分析，包括薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度，電荷密度
- In-Plane裝置可以同時測量樣品垂直方向的結構及樣品深度方向的結構
- 小角散射與納米材料粒徑分布
- 微區(qū)樣品的分析
- 方便的無損樣品制備。
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組合式多功能X射線衍射儀Ultima?IV系列是一種高性能多功能的粉晶X射線衍射儀，它采用了理學獨創(chuàng)的CBO交叉光學系統(tǒng)，一臺儀器可以進行從普通粉末樣品到包括In-Plane在內(nèi)的薄膜樣品測試。采用組合式結構，通過對各個單元的不同組合，可以進行各種測試。
?技術參數(shù)
- X射線發(fā)生器功率為3KW
- 測角儀為水平測角儀
- 測角儀最小步進為1/10000度
- 測角儀配程序式可變狹縫
- 高反射效率的石墨單色器
- CBO交叉光路，提供聚焦光路及高強度高分辨平行光路（帶Mirror）（理學獨有）
- 小角散射測試組件
- 多用途薄膜測試組件
- 微區(qū)測試組件
- In-Plane測試組件（理學獨有）
- 高速探測器D/teX-Ultra
- X射線衍射-差示掃描量熱儀同時測量裝置 XRD-DSC
- 分析軟件包括：XRD分析軟件包、NANO-Solver軟件包、GXRR軟件包等?
主要特點：
組合式多功能X射線衍射儀Ultima IV系列，可以廣泛應用于各種材料結構分析的各個領域。
可以分析的材料包括：金屬材料、無機材料、復合材料、有機材料、納米材料、超導材料
可以分析的材料狀態(tài)包括：粉末樣品、塊狀樣品、薄膜樣品、微區(qū)微量樣品
主要的應用有：
- 粉末樣品的物相定性與定量分析
- 計算結晶化度、晶粒大小
- 確定晶系、晶粒大小與畸變
- Rietveld結構分析
- 薄膜樣品分析，包括薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度，電荷密度
- In-Plane裝置可以同時測量樣品垂直方向的結構及樣品深度方向的結構
- 小角散射與納米材料粒徑分布
- 微區(qū)樣品的分析
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主要的應用有：
- 粉末樣品的物相定性與定量分析
- 計算結晶化度、晶粒大小
- 確定晶系、晶粒大小與畸變
- Rietveld定量分析
- 薄膜樣品分析，包括薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度，電荷密度
- In-Plane裝置可以同時測量樣品垂直方向的結構及樣品深度方向的結構
- 小角散射與納米材料粒徑分布
- 微區(qū)樣品的分析
- 方便的無損樣品制備。
儀器性能和維護對于實驗室的運行來說至關重要，禹重科技為您提供培訓、儀器服務計劃或按需維修服務，幫助您獲得準確可靠的結果以及最長的儀器正常運行時間。我們很清楚保持儀器的最優(yōu)性能對提高您的生產(chǎn)力極為重要，因此，我們定能在您需要時為您排憂解難。
通過與禹重的合作，您不僅可以獲得最好的分析儀器，而且還將擁有未來最佳的合作伙伴